德國BRUKER致力于讓科學家能夠取得突破性發現，并開發新的應用以提高人類生活質量。德國BRUKER布魯克的高性能科學儀器和高價值的分析和診斷解決方案使科學家能夠探索分子、細胞和微觀層面的生命和材料。憑借與客戶的密切合作，布魯克在生命科學分子研究、應用和制藥應用以及顯微鏡、納米分析和工業應用等領域實現了創新突破和生產力提升，并創造了諸多客戶成功案例。近年來，德國BRUKER布魯克也成為細胞生物學、臨床前成像、臨床影像學和蛋白質組學研究、臨床微生物學和分子病理學研究的高性能系統的提供者。以下就是深圳市華聯歐國際貿易有限公司為大家介紹的德國BRUKER分析儀（BRUKER元素分析儀產品說明），華聯歐專注自動化電子電氣工控設備經銷，品質高，穩定性高，性價比高，優勢供應DNH全系列產品，100%原裝正品，價格優，貨期短，歡迎來電咨詢！

德國BRUKER布魯克制造的元素分析儀可以檢測從亞ppb級痕量一直到100%的含量范圍。簡便易用的解決方案包幫助客戶以滿足ASTM、DIN、ISO和FDA等標準和規范的要求，開展過程和質量控制。得益于高分析準確度和精密度，不論是在實驗室，還是在現場，都可以利用它進行學術研究。

布魯克的電子顯微鏡分析儀包含EDS、WDS、EBSD和SEM上的微區XRF，它們為目前可用的材料提供了最全面的成分和結構分析。目前，這些分析儀器完全集成到ESPRIT 2軟件中，使您能夠輕松組合不同設備，通過互補的方法獲得數據，達到更好的表征效果。

德國BRUKER分析儀亮點
①有效輸出計數可達1,000,000 cps。
②無與倫比的分析速度。
③更大的采集立體角。
④優化的幾何結構，更快的采集速度，更高的測試效率。
⑤包含所有K，L，M和N線系的全系原子數據庫，可以對復雜的數據進行定量分析。

BRUKER元素分析儀，用于SEM,FIB-SEM和EPMA的能量分散譜儀
①布魯克的最新一代QUANTAX EDS XFlash®7能譜探頭具有最大的采集立體角(Solid Angle)和更高的輸出計數率。
②XFlash®7繼續引領掃描電子顯微鏡(SEM)、聚焦離子束(FIB-SEM)和電子探針(EPMA)上能譜分析的性能與功能的標準。
③XFlash®7探頭還為TEM和SEM中可以透過電子的樣品提供了優化的解決方案，此外，獨特的XFlash®FlatQUAD為一些高難度樣品提供了更好的解決辦法。
④Slim-line技術，大立體角設計，最新一代脈沖處理器，以及維護預警系統使系統運行時間達到最大化。
⑤更好的能量分辨率和采譜性能。
⑥精致的定量算法，獨特的有標樣和無標樣定量分析方法有效提高了分析結果的準確性。

德國BRUKER元素分析儀高效的元素分析
①每一套EDS系統都獨立進行優化，保證以更快的速度得到更精確的結果。
②更大的輸出計數率使測量時間大大縮短，可以在任何條件下進行定量和面分布分析而不再受數據量的困擾。
③優化的結構設計，可以分析各種高難度的樣品。
④優化的設計降低了背底和吸收的影響，使定量結果更為準確可靠。
⑤更低的背底和吸收使檢測限更小，可以檢測到更低含量的元素。
⑥一體化的ESPRIT軟件平臺將EDS,WDS,EBSD和微區-XRF無縫組合，成為一個綜合的分析平臺，可用于所有的SEM,FIB-SEM以及EPMA。

德國BRUKER元素分析儀用于完整數據挖掘的最先進的定量能量色散X射線光譜(EDS)包括：
①靈活且易于使用的分析軟件包ESPRIT，具有開放的用戶界面：即見即所得。
②具有學生或實驗室網絡的個人或LAN訪問的離線分析選項。
③量化步驟選項：易于使用的默認建議、單獨設置、詳細修改和保存/重新加載配方。
④3種不同的量化方法涵蓋了基于理論和實驗Cliff-Lorimer因子以及Zeta因子和缺失Zeta因子插值的所有可能場景。
⑤40 keV以上的TEM特定高能元素線可用于量化，確保明確的結果。
⑥可選擇3種重要的背景模型：一個物理模型用于散裝，一個物理模型用于薄片以及一個數學模型。
⑦已經包含在Cliff-Lorimer量化中的吸收校正。

德國BRUKER元素分析儀TEM、STEM和SEM(T-SEM)中電子透明樣品的高分辨率元素分布分析
①EDS方面的長期專業知識確保為您的特定顯微鏡（STEM、TEM或SEM）配置最佳解決方案，這要歸功于每個顯微鏡極片和EDS法蘭類型的細線檢測器設計和幾何優化。
②最大收集和起飛角度允許快速和高度靈敏的數據采集。
③快速移動的穩定檢測器臺。
④針對周期性特征的特殊漂移校正程序可確保在納米級成功進行EDS。
⑤用于現場實驗的時間分辨數據采集，適用于在高溫下保存不斷變化的數據流，fe。
⑥使用用于生成特定分析作業和批處理的腳本和API選項實現數據采集和分析過程的自動化。
⑦由于完全避免了機械和電磁干擾，避免或保持在最低限度的樣品傾斜、吸收、陰影和系統峰值，因此不需要或需要最少的采集后校正的干凈數據。
⑧對市場上電子透明樣品的EDS數據進行最成熟的量化，提供了具有明確結果的徹底數據挖掘。
⑨憑借在TEM方面的長期經驗，可提供最高質量的協助和培訓，以充分利用您的系統。

德國BRUKER元素分析儀產品說明
對納米級半導體結構的理解大多需要高端分析掃描透射電子顯微鏡，包括各自的方法組合和復雜的樣品制備。在這里，最近對UV-LED進行了SARS-CoV-2和多重耐藥細菌的皮膚耐受性滅活測試。涂層結構可以提高電池（SSB和LIB）的NCM正極材料的電容保持率。新一代XFlash®檢測器使以非常高的輸入計數率(ICR)進行映射成為可能。該示例展示了XFlash®檢測器在非常高的計數率下對具有重疊峰（Si和W）的元素組合進行映射的能力。

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